Categorias de Produtos

Analisadores de impedância, até 3 GHz

| Z |, L, C, R, σ, ε teste Medição da bateria 1 mHz a 200 kHz 2 ms tempo de medição

Para aplicações de P&D de componentes e materiais eletroquímicos, baterias e EDLCs

Software opcional para o modelo IM3570 5 modelos de circuito equivalente Gráfico de características de frequência de gráfico de resultados de análise Gráfico de Cole-Cole, exibição de círculo de admitância

Análise de circuito simples e tomada de decisão detalhada de aceitação / rejeição
Atualização de firmware para o IM3570

Testes | Z |, L, C, R Tempo de medição de 4 Hz a 5 MHz e 0,5 ms Medir LCR e realizar varreduras de frequência simultaneamente

Solução de dispositivo único para testes de alta velocidade e varredura de frequência

| Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 1 MHz a 300 MHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça LCR e conduza varreduras de frequência simultaneamente

Analisador de impedância de medição de frequência de 1 MHz a 300 MHz com velocidade de teste de 0,5 ms e repetibilidade superior

| Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 100 kHz a 300 MHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça LCR e conduza varreduras de frequência simultaneamente

Analisador de impedância de medição de frequência de 100 kHz a 300 MHz com velocidade de teste de 0,5 ms

| Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 1 MHz a 600 MHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça LCR e conduza varreduras de frequência simultaneamente

Analisador de impedância de medição de frequência de 1 MHz a 600 MHz com velocidade de teste de 0,5 ms

Teste | Z |, L, C, R Frequência da fonte de teste: 1 MHz a 1,3 GHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça a LCR e realize varreduras de frequência simultaneamente

Analisador de impedância de frequência de medição de 1MHz a 1.3GHz com velocidade de teste de 0.5ms e variabilidade 0.07%

Teste | Z |, L, C, R Frequência da fonte de teste: 1 MHz a 3 GHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça a LCR e realize varreduras de frequência simultaneamente

Analisador de impedância de frequência de medição de 1MHz a 3GHz com velocidade de teste de 0,5ms e variabilidade 0,07%

Equipamento de teste tudo-em-um para testes de alta frequência a 600 MHz de diversos componentes

Medição de dois terminais de conexão direta DC a 3 GHz Tamanhos de amostra mensuráveis: 0201 a 1210 (EIA)

Dispositivo elétrico de teste de alta frequência 3GHz para 6 tamanhos diferentes de SMD