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Analisadores de impedância, até 3 GHz
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- | Z |, L, C, R, σ, ε teste Medição da bateria 1 mHz a 200 kHz 2 ms tempo de medição
Para aplicações de P&D de componentes e materiais eletroquímicos, baterias e EDLCs
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- Software opcional para o modelo IM3570 5 modelos de circuito equivalente Gráfico de características de frequência de gráfico de resultados de análise Gráfico de Cole-Cole, exibição de círculo de admitância
Análise de circuito simples e tomada de decisão detalhada de aceitação / rejeição
Atualização de firmware para o IM3570 -
- Testes | Z |, L, C, R Tempo de medição de 4 Hz a 5 MHz e 0,5 ms Medir LCR e realizar varreduras de frequência simultaneamente
Solução de dispositivo único para testes de alta velocidade e varredura de frequência
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- | Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 1 MHz a 300 MHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça LCR e conduza varreduras de frequência simultaneamente
Analisador de impedância de medição de frequência de 1 MHz a 300 MHz com velocidade de teste de 0,5 ms e repetibilidade superior
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- | Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 100 kHz a 300 MHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça LCR e conduza varreduras de frequência simultaneamente
Analisador de impedância de medição de frequência de 100 kHz a 300 MHz com velocidade de teste de 0,5 ms
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- | Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 1 MHz a 600 MHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça LCR e conduza varreduras de frequência simultaneamente
Analisador de impedância de medição de frequência de 1 MHz a 600 MHz com velocidade de teste de 0,5 ms
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- Teste | Z |, L, C, R Frequência da fonte de teste: 1 MHz a 1,3 GHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça a LCR e realize varreduras de frequência simultaneamente
Analisador de impedância de frequência de medição de 1MHz a 1.3GHz com velocidade de teste de 0.5ms e variabilidade 0.07%
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- Teste | Z |, L, C, R Frequência da fonte de teste: 1 MHz a 3 GHz Tempo de medição: 0,5 ms Meça a LCR e realize varreduras de frequência simultaneamente
Analisador de impedância de frequência de medição de 1MHz a 3GHz com velocidade de teste de 0,5ms e variabilidade 0,07%
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Equipamento de teste tudo-em-um para testes de alta frequência a 600 MHz de diversos componentes
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- Medição de dois terminais de conexão direta DC a 3 GHz Tamanhos de amostra mensuráveis: 0201 a 1210 (EIA)
Dispositivo elétrico de teste de alta frequência 3GHz para 6 tamanhos diferentes de SMD
Medidores LCR | Medidores de capacitância, 1 kHz, 120 Hz
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- C, D (tan δ), Q e teste de baixa capacitância 1 kHz, 1 MHz tempo de medição de 1,5 ms em 1 MHz
Medidor de capacitância de banda dupla de 1kHz / 1MHz para teste de alta velocidade de capacitores de cerâmica em linhas de produção
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- | Z |, L, C, R testando tempo de medição de 120Hz ou 1kHz 5 ms
Medidor LCR compacto de banda dupla de 120Hz / 1kHz para integração em linhas de produção automatizadas
Medidores LCR, 200 kHz a 8 MHz
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- | Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 40 Hz a 200 kHz Tempo de medição: 2 ms
Ideal para Linhas de Produção de Peças Eletrônicas e Testes Automatizados
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- | Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: 1 mHz a 200 kHz Tempo de medição: 2 ms Modo de medição do transformador
De aplicações de P&D a enrolamentos, bobinas e fabricação de transformadores
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- | Z |, L, C, R Teste de frequência da fonte de teste: DC ou 4 Hz a 8 MHz Tempo de medição: 1 ms Faixa de precisão garantida de 1mΩ
Medidores LCR de uso geral com frequência de medição de DC, 4 Hz a 8 MHz
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