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Analizadores de impedancia, hasta 3 GHz

| Z |, L, C, R, σ, ε prueba Medición de batería 1 mHz a 200 kHz Tiempo de medición 2 ms

Para aplicaciones de I + D de componentes y materiales electroquímicos, baterías y EDLC

Software opcional para el modelo IM3570 5 modelos de circuitos equivalentes Gráfico de características de frecuencia de trazado de los resultados del análisis Gráfico de Cole-Cole, visualización del círculo de admisión

Análisis de circuito simple y toma de decisiones detalladas de aceptación / rechazo
Actualización de firmware para el IM3570

| Z |, L, C, R pruebas 4 Hz a 5 MHz 0.5 ms tiempo de medición Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente

Solución de dispositivo único para pruebas de alta velocidad y barrido de frecuencia

| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 300 MHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 300MHz con velocidad de prueba de 0.5ms y repetibilidad superior

Pruebas | Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 100 kHz a 300 MHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 100 kHz a 300 MHz con velocidad de prueba de 0.5 ms

| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 600 MHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 600MHz con velocidad de prueba de 0.5ms

| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 1.3 GHz Tiempo de medición: 0.5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 1.3GHz con velocidad de prueba de 0.5ms y variabilidad 0.07%

| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 3 GHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente

Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 3GHz con velocidad de prueba de 0.5ms y variabilidad 0.07%