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Analizadores de impedancia, hasta 3 GHz

ANALIZADOR DE IMPEDANCIA QUÍMICA IM3590
| Z |, L, C, R, σ, ε prueba Medición de batería 1 mHz a 200 kHz Tiempo de medición 2 ms
Para aplicaciones de I + D de componentes y materiales electroquímicos, baterías y EDLC
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ANÁLISIS DE CIRCUITO EQUIVALENTE FIRMWARE IM9000
Software opcional para el modelo IM3570 5 modelos de circuitos equivalentes Gráfico de características de frecuencia de trazado de los resultados del análisis Gráfico de Cole-Cole, visualización del círculo de admisión
Análisis de circuito simple y toma de decisiones detalladas de aceptación / rechazo
Actualización de firmware para el IM3570
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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM3570
| Z |, L, C, R pruebas 4 Hz a 5 MHz 0.5 ms tiempo de medición Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
Solución de dispositivo único para pruebas de alta velocidad y barrido de frecuencia
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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7580A
| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 300 MHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 300MHz con velocidad de prueba de 0.5ms y repetibilidad superior
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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7581
Pruebas | Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 100 kHz a 300 MHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 100 kHz a 300 MHz con velocidad de prueba de 0.5 ms
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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7583
| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 600 MHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 600MHz con velocidad de prueba de 0.5ms
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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7585
| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 1.3 GHz Tiempo de medición: 0.5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 1.3GHz con velocidad de prueba de 0.5ms y variabilidad 0.07%
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ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM7587
| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de origen de prueba: 1 MHz a 3 GHz Tiempo de medición: 0,5 ms Mide LCR y realiza barridos de frecuencia simultáneamente
Analizador de impedancia de frecuencia de medición de 1MHz a 3GHz con velocidad de prueba de 0.5ms y variabilidad 0.07%
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ACCESORIO DE PRUEBA IM9202
Dispositivo de prueba todo en uno para pruebas de alta frecuencia de 600 MHz de una amplia gama de componentes

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SMD TEST FIXTURE IM9201
Conexión directa tipo de medición de dos terminales DC a 3 GHz Tamaños de muestra medibles: 0201 a 1210 (EIA)
Accesorio de prueba de alta frecuencia de 3GHz para 6 tamaños SMD diferentes
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Medidores LCR | Medidores de capacitancia, 1 kHz, 120 Hz

MEDIDOR C 3506-10
C, D (tan δ), Q y pruebas de baja capacitancia 1 kHz, 1 MHz Tiempo de medición de 1,5 ms a 1 MHz
Medidor de capacitancia de doble banda de 1 kHz / 1 MHz para pruebas de alta velocidad de condensadores de cerámica en líneas de producción
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LCR HiTESTER 3511-50
| Z |, L, C, R prueba 120Hz o 1kHz 5 ms tiempo de medición
Medidor LCR compacto de doble banda de 120Hz / 1kHz para integración en líneas de producción automatizadas
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Medidores LCR, 200 kHz a 8 MHz

MEDIDOR LCR IM3523
Pruebas | Z |, L, C, R Frecuencia de la fuente de prueba: 40 Hz a 200 kHz Tiempo de medición: 2 ms
Ideal para líneas de producción de piezas electrónicas y pruebas automatizadas.
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MEDIDOR LCR IM3533
| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de la fuente de prueba: 1 mHz a 200 kHz Tiempo de medición: 2 ms Modo de medición del transformador
Desde aplicaciones de I + D hasta bobinados, bobinas y fabricación de transformadores
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MEDIDOR LCR IM3536
| Pruebas Z |, L, C, R Frecuencia de la fuente de prueba: CC, o 4 Hz a 8 MHz Tiempo de medición: 1 ms Precisión rango garantizado de 1 mΩ
Medidores LCR de uso general con frecuencia de medición de CC, 4Hz a 8MHz
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Equipo de prueba de producción
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